晶彩科技 推Micro LED檢量測設備

晶彩科技 推Micro LED檢量測設備

晶彩科重視研發及專利佈局,更積極佈局新顯示技術與製程領域。圖/晶彩科技提供

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晶彩科技提供了Micro LED、Micro OLED、FOPLP、TFT LCD、Touch Panel、電子紙、OLED等產品一系列的檢量測解決方案,其中針對Micro LED顯示器生產流程,包含Chip On Wafer/Carrier 晶粒檢量測機、Backplane Panel Pad &晶粒檢量測機以及Panel側邊導線檢量測機等三大產品主題,將於會展(攤位:L218)上提出最新技術及實際應用。

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晶彩科技表示,全新系列Micro LED檢量測設備均搭載了新一代高速崁入式AI即時檢測架構,在Chip On Wafer/Carrier晶粒檢測機方面,可因應龐大數量級的晶粒缺陷檢測及巨轉後的晶粒偏移與旋轉量測;Backplane Panel Pad & 晶粒檢量測機則能針對驅動線路的短斷路、金屬Pad的缺損與異常及LED Bonding在金屬Pad後的位置偏移,進行精準的檢測與量測。

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另外,Panel側邊導線檢量測機則可以對應不同切割尺寸,進行磨邊導角面及正側面掃描,提供金屬導線短斷路檢測、導線與驅動線路間的Overlay,以及線路尺寸量測監控解決方案。完整解決方案,詳洽https://www.favite.com/。

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